三、出現(xiàn)以下畫(huà)面時(shí)點(diǎn)擊“I   Agree”.

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:12 ]

四、出現(xiàn)以下畫(huà)面,大體意思是問(wèn)找到的驅(qū)動(dòng)器正確么？點(diǎn)擊“YES”。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:12 ]

五、出現(xiàn)以下畫(huà)面，我們有兩種選擇：
1、“Quick  Test”:快速測(cè)試。
快速測(cè)試時(shí)間最短，但只能進(jìn)行簡(jiǎn)單的測(cè)試。
2、“Advanced Test”:高級(jí)測(cè)試。
高級(jí)測(cè)試耗時(shí)較長(zhǎng)，但測(cè)試內(nèi)容詳盡，硬盤(pán)有無(wú)問(wèn)題均可測(cè)試出來(lái)，推薦使用。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:13 ]

六、我們先進(jìn)行快速測(cè)試，看看結(jié)果怎樣。點(diǎn)擊“Quick  Test”后，出現(xiàn)如下畫(huà)面：
點(diǎn)擊“STRAT”，開(kāi)始了。
需要注意的是，測(cè)試開(kāi)始后，鼠標(biāo)均不能使用。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:14 ]

七、不到2分鐘，我的600E 6。4G 硬盤(pán)就測(cè)試完畢，出現(xiàn)以下畫(huà)面：Operation
completed successfally ,DISPOSITION CODE=0*00，意思是 運(yùn)算全部成功，點(diǎn)擊“OK”，又退回前一畫(huà)面。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:14 ]

八、這次，我們?cè)撨M(jìn)行高級(jí)測(cè)試了，步驟同上。
經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試后，因?yàn)槲业挠脖P(pán)是好的，所以仍然提示：Operation
completed successfally，DISPOSITION CODE=0*00。
如果硬盤(pán)有任何問(wèn)題，均不會(huì)出現(xiàn)上述提示，會(huì)有其它錯(cuò)誤代碼提示并且畫(huà)面背景為紅色（后附錯(cuò)誤代碼表）這樣，我們只需花不很長(zhǎng)的時(shí)間就可以知道硬盤(pán)是好的還是壞的了。
需要注意的是，測(cè)試時(shí)間與硬盤(pán)容量大小有關(guān)，硬盤(pán)越大，測(cè)試時(shí)間越長(zhǎng)，我的6。4G硬盤(pán)高級(jí)測(cè)試花了12分鐘。

[ Last edited by c@ini@o on 2003-12-28 at 14:52 ]

[ 本帖最后由 c@ini@o 于 2005-11-12 14:33 編輯 ]

十、下面，我們看一下IBM  DFT還有什么其它功能。
我們看標(biāo)題欄，有：DRIVE、FITNESS TEST UTILITES、HELP。
1、DRIVE（驅(qū)動(dòng)器）下有：SLETCT DRIVE ALT-S（選擇驅(qū)動(dòng)器），用來(lái)選擇你想測(cè)試的驅(qū)動(dòng)器。
RESCAN BUS  ALT-R：我查英漢詞典查不到什么意思。
EXIT  ALT-X：退出，沒(méi)什么好說(shuō)的。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:18 ]

2、FITNESS TEST （適當(dāng)?shù)臏y(cè)試）下有：QUICK TEST（快速測(cè)試）我們已經(jīng)用過(guò)了，不多說(shuō)了。
ADVANCED TEST ：高級(jí)測(cè)試  這個(gè)我也介紹過(guò)了。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:21 ]

3、UTILITES（功能）下有：DRIVE INFO（驅(qū)動(dòng)器信息）里面有硬盤(pán)的詳細(xì)信息，一會(huì)我會(huì)詳細(xì)介紹。
ERASE BOOT SECTOR（抹去分區(qū)表）很顯然，這項(xiàng)是在分區(qū)表?yè)p壞時(shí)用來(lái)重建分區(qū)表的。我的硬盤(pán)是日立的，無(wú)法使用這一項(xiàng)。
ERASE DISK（格式化硬盤(pán)）應(yīng)該是低級(jí)格式化。只能用在IBM的硬盤(pán)上。
CORRUPTED SECTOR REPAIR（修復(fù)壞的部分）應(yīng)該是可以修復(fù)一些小問(wèn)題，同樣只適用IBM硬盤(pán)。
ATA FUNCTIONE下有S。M。A。R。T。 OPERATIONS這項(xiàng)我記不清什么意思了。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:22 ]

現(xiàn)在詳細(xì)介紹一下DRIVE INFO（驅(qū)動(dòng)器信息），以我的TP600E，日立硬盤(pán)介紹：
點(diǎn)擊DRIVE INFO（驅(qū)動(dòng)器信息）后，顯示如下畫(huà)面：
MODEL（型號(hào)）：HITACHI_DK239A-65B
CAPACITY(容量):6.45GB
CACHE SIZE(緩沖大小):512KB
ATA COMPLIANCE(看不懂):ATA-4(應(yīng)該是ATA接口速率)
ULTRA   DMA
   HIGHEST MODE（高度方式，我也不明白什么意思）：2
   ACTIVE  MODE（活動(dòng)方式 ，我也不明白什么意思）：2
SETTINGS   設(shè)置
   WRITE CACHE（書(shū)寫(xiě)緩沖）：ENABLED（開(kāi)啟）
   READ LOOK-AHEAD（不懂）：ENABLED（開(kāi)啟）
   S。M。A。R。T。 OPERATIONS（不懂）：ENABLED（開(kāi)啟）
   S。M。A。R。T． STATUS（不懂）：GOOD
   SECURITY FEATURE（安全特性）：SUPPORTED（支持）
   PASSWORD（密碼）：NOT SET （沒(méi)設(shè)）
   SECUTITY MODE（不懂）：FROZEN （不懂）

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:23 ]

現(xiàn)在基本上把IBM DFT如何使用介紹完了，因?yàn)槲业挠⑽牟缓茫�有些功能只能用在IBM硬盤(pán)上，我的硬盤(pán)又是日立的，所以我也沒(méi)用過(guò)。如有錯(cuò)誤或補(bǔ)充，歡迎跟貼說(shuō)明！
希望拙文能給需要的朋友一些幫助，愿大家都能買(mǎi)到一塊好硬盤(pán)！

[ Last edited by c@ini@o on 2003-12-28 at 15:10 ]
補(bǔ)充一下檢測(cè)結(jié)束后錯(cuò)誤代碼表：

    0X00 -  Not error
0X10-  Aborted
0X20 -  Device Not Present
0X22 -  Password Protected
0X30-  Out of memory
0X31-  Wrong Parameter
0X32-   Illegal Parameter
0X33-   Function not supported
0X40-   System Error
0X41-   Bad Cable
0X42 -  Temerature Limit exceeded
0X43-   Pending SCSi Request
0X44-   System Vibration
0X45-   Low system Performance  
0X70-   Defective Device
0X71-   Device Nor Ready
0X72-   Device SMART Error
0X73-   Device Damaged By Shock
0X74-   SMART self test Error SMART
0X75    Defective device